Información sobre el producto "OTU-KS-NV-155-013"
- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
| Altura: | 37,8 mm |
|---|---|
| Ancho: | 12,8 mm |
| Carrera: | 2 mm |
| Conforme RoHS: | Sí |
| Dimensiones exteriores (AnxPxAl): | 155 x 12,8 x 37,8 mm |
| Estado de entrega: | Incluye amplificador nanoVTEP, GKS (puntas de prueba con resorte) |
| Grupo de productos: | Opens Test |
| Juegos de recambio (WS): | WS Keysight |
| Longitud: | 155 mm |
| Mesas de prueba de vacío (VA): | VA 2070S/L, VA 3070S/L |
| Modelo: | nanoVTEP SP conector |
| Serie: | OTU |
| Temperatura máx.: | 60 °C |
| Temperatura mín.: | 10 °C |
| Tipo: | Prueba sin vectores Keysight |
| Tipo de accesorios: | Accesorios customizados |
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- Componentes para opens test, para prueba capacitiva de chips semiconductores por rupturas, cortocircuitos y errores de soldadura
- Adecuado para todos los sistemas de prueba Keysight 307x con versión de software 9.2 o superior
- Exactitud de repetición, cobertura de pruebas y detección de errores mejoradas en comparación con la tecnología VTEP
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- Dimensiones exteriores (AnxPxAl): 155 x 12,8 x 37,8 mm
- Grupo de productos: Opens Test
- Serie: OTU
- Tipo: Prueba sin vectores Keysight
- Modelo: nanoVTEP SP conector
- Tipo de accesorios: Accesorios customizados
- Estado de entrega: Incluye amplificador nanoVTEP, GKS (puntas de prueba con resorte)
- Ancho: 12,8 mm
- Altura: 37,8 mm
- Temperatura mín.: 10 °C
- Temperatura máx.: 60 °C
- Conforme RoHS: Sí
- Mesas de prueba de vacío (VA): VA 3070S/L, VA 2070S/L
- Juegos de recambio (WS): WS Keysight